文献类型：期刊文章

作　　者：曾丽珍[1] 赵少飞[2]

机构地区：[1]华南师范大学实验中心,广东广州510006 [2]广东工业大学期刊中心,广东广州510006

出　　处：《实验室研究与探索》

年　　份：2016

卷　　号：35

期　　号：7

起止页码：295-301

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2014、CAS、CSA-PROQEUST、JST、RCCSE、UPD、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,TEM)具有很高的分辨率和放大倍数高,广泛应用于实验教学和科学研究各个领域。透射电子显微镜结合不同的附件(X射线能谱分析(EDS)、电子能量损失谱(EELS)),可以同时提供形貌、成分、结构信息,它可以揭示物质内部的微细观结构,是人们了解、认识事物微观结构不可缺少的工具。观察透射电镜的最终目的是得到清晰的照片,而样品的制备是关键。透射电镜样品的制备质量,直接影响到样品的观察效果与分析结果。本文以JEM-2100型透射电子显微镜为例,从样品制备方法的选择、载网与支持膜的选用、样品防污染措施及电镜操作等几方面入手,详细地介绍高质量的透射电镜照片的拍摄经验,为透射电镜相关工作人员提供技术参考。

关 键 词：透射电子显微镜 样品制备  电镜操作  透射电子显微镜照片  

分 类 号：G482.0[教育学类]