登录    注册    忘记密码

期刊文章详细信息

弹用O型硅橡胶密封圈失效机理及模型    

Failure Mechanism and Model of O-type Silicon Rubber Sealing Ring for Ammunition

  

文献类型:期刊文章

作  者:余勃彪[1,2] 宋太亮[3] 王琴琴[4]

机构地区:[1]装甲兵工程学院技术保障工程系 [2]海军工程大学兵器工程系 [3]中国国防科技信息中心 [4]72726部队

出  处:《装备环境工程》

年  份:2016

卷  号:13

期  号:4

起止页码:131-135

语  种:中文

收录情况:CAS、CSA、CSA-PROQEUST、JST、ZGKJHX、普通刊

摘  要:目的利用日常收集到的使用数据来判断密封圈寿命,为预测弹药寿命提供依据。方法分析O型圈故障模式,引入了故障率经验公式。规范化O型密封圈的故障率公式,导出综合考虑了密封圈尺寸、接触应力与密封圈硬度、流体黏度、温度的密封圈故障率模型,并用算例验证这一模型的有效性。结果 O形硅胶密封圈的主要故障模式是泄漏,导出了综合考虑各因素后的密封圈故障率模型,并用该模型准确算出了某弹药的寿命。结论文中导出的故障率模型对于在弹药保障工作中评估某些种类弹药储存期限有借鉴意义。

关 键 词:O型密封圈 失效机理  弹药

分 类 号:TJ03] TB42]

参考文献:

正在载入数据...

二级参考文献:

正在载入数据...

耦合文献:

正在载入数据...

引证文献:

正在载入数据...

二级引证文献:

正在载入数据...

同被引文献:

正在载入数据...

版权所有©重庆科技学院 重庆维普资讯有限公司 渝B2-20050021-7
 渝公网安备 50019002500408号 违法和不良信息举报中心