文献类型：期刊文章

作　　者：王国军[1] 景为平[1]

机构地区：[1]南通大学江苏省专用集成电路设计重点实验室,江苏南通226019

出　　处：《微电子学与计算机》

基　　金：江苏省高校自然科学研究重大项目(13KJA510005);江苏省物联网和新一代信息技术研发及产业化项目;江苏省科技支撑计划-工业部分(BE2013008-3)

年　　份：2016

卷　　号：33

期　　号：7

起止页码：164-168

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2014、CSCD、CSCD_E2015_2016、JST、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：提出了一种采用UVM(Universal Verification Methodology)验证方法学设计出的适合超高频RFID芯片解码系统的验证平台.该验证平台相比于传统验证平台具有重用性强、层次化合理、效率高、验证自动化等优点,且该验证平台以覆盖率驱动,显著提高了验证的效率和质量.现该验证平台已成功应用于一款超高频RFID标签芯片解码系统的设计验证,得到了期望的覆盖率,满足设计要求.

关 键 词：UVM  RFID 验证平台  覆盖率  DUT

分 类 号：TN47]