文献类型：期刊文章

作　　者：谭巧[1,2] 徐启峰[1] 谢楠[1] 邱鑫茂[3] 谢榕芳[1]

机构地区：[1]福州大学电气工程与自动化学院,福建福州350108 [2]福建信息职业技术学院电子工程系,福建福州350012 [3]福州大学物理与信息工程学院,福建福州350108

出　　处：《红外与激光工程》

基　　金：国家自然科学基金(51177016)

年　　份：2016

卷　　号：45

期　　号：6

起止页码：247-252

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2014、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2015_2016、EI(收录号：20162702564085)、IC、INSPEC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：BGO晶体的固有线性双折射及其温度特性严重制约着光学电压互感器(OVT)的实用化进程,对其进行定量研究有助于提高和改进OVT的性能。文中提出了一种晶体劈干涉条纹图像法,通过测量干涉条纹的移动实现对BGO晶体内部固有线性双折射及其温度特性的准确测量。文中采用琼斯矩阵对测量原理进行了推导,并给出了测量实例和验证结果。结果表明,单位长度的BGO晶体固有线性双折射会给OVT带来约1.0%的测量误差;考虑温度特性,误差约为1.2%,对于OVT必须具备0.2%的测量准确度是一个严重挑战。文中提出的方法与传统的光强法比较,不受光源功率波动的影响,在测量过程中无需调节光学元件,不会引入额外的误差,测量准确度提高了约一个数量级。

关 键 词：线性双折射 BGO晶体  干涉条纹 光学电压  

分 类 号：O432.2]