登录    注册    忘记密码

期刊文章详细信息

含污秽薄层的高压复合绝缘子表面电场计算新方法  ( EI收录)  

Novel Method for Electric Field Calculation Considering the Thickness of Contaminant Layer on the Surface of Composite Insulator

  

文献类型:期刊文章

作  者:汪沨[1,2] 廖平军[1] 黄俊[3] 罗勇[3] 肖运军[3]

机构地区:[1]湖南大学电气与信息工程学院,长沙410082 [2]电力设备电气绝缘国家重点实验室,西安交通大学,西安710049 [3]国网湖南省电力公司株洲供电分公司,株洲412000

出  处:《电工技术学报》

基  金:高等学校博士学科点专项科研基金(20120161110009);电力设备电气绝缘国家重点实验室(EIPE13207)资助项目

年  份:2016

卷  号:31

期  号:10

起止页码:77-84

语  种:中文

收录情况:BDHX、BDHX2014、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2015_2016、EI(收录号:20162402493522)、IC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘  要:为研究复合绝缘子污闪机理,需对含污层的复合绝缘子进行电场分析,然而绝缘子表面污秽层厚度数量级达10?4m,甚至更小,远远小于绝缘子的尺寸。目前现有的有限元及边界元电场计算方法都无法解决此类多空间尺度的场域分析问题。为此,提出一种基于数字图像处理的污秽绝缘子表面电场计算新方法,该方法首先应用图像处理技术对m×n大小绝缘子图像二值化处理,利用像素单元实现区域的网格剖分,同时在像素单元基础上建立阻抗数学模型;然后形成(m×n)×(m×n)大小的节点导纳矩阵,采取节点电压法对其进行电网络分析,得到污秽绝缘子表面电场分布。实例计算表明,与其他算法相比,该方法对于含污层的复合绝缘子电场计算具有明显优势,为复合绝缘子表面污闪机理的研究提供了新的有效的电场计算方法。

关 键 词:绝缘子 矩阵  像素单元  图像处理 有限元法

分 类 号:TM852]

参考文献:

正在载入数据...

二级参考文献:

正在载入数据...

耦合文献:

正在载入数据...

引证文献:

正在载入数据...

二级引证文献:

正在载入数据...

同被引文献:

正在载入数据...

版权所有©重庆科技学院 重庆维普资讯有限公司 渝B2-20050021-7
 渝公网安备 50019002500408号 违法和不良信息举报中心