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期刊文章详细信息

弹光调制和电光调制联合测剩余双折射  ( EI收录)  

Measurement of Residual Birefringence Combined Photo-Elastic Modulation with Electro-Optic Modulation

  

文献类型:期刊文章

作  者:李克武[1,2,3] 王黎明[2,3] 王志斌[1,2,3] 张瑞[1,2,3] 李晓[2] 王爽[2]

机构地区:[1]中北大学信息与通信工程学院,山西太原030051 [2]山西省光电信息与仪器工程技术研究中心,山西太原030051 [3]中北大学电子测试技术重点实验室,山西太原030051

出  处:《中国激光》

基  金:国家国际科技合作专项项目(2013DFR10150);国家自然科学基金(61471325;61127015;61505180)

年  份:2016

卷  号:43

期  号:5

起止页码:202-209

语  种:中文

收录情况:AJ、BDHX、BDHX2014、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2015_2016、EI(收录号:20162102427019)、IC、JST、RCCSE、RSC、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘  要:为了实现高速、高精度、高灵敏度、操作方便可控、稳定性好和成本较低的剩余双折射值和快轴方向角的同时测量,采用弹光调制器(PEM)和电光调制器(EOM)组合,并运用探测器探测信号和锁相放大器锁相输出一倍频项数据。直流(DC)项和倍频项数据在计算机中求解得到双折射值和方向,实现了双折射值和方向的单弹光单通道同时测量。对该新方案原理进行了分析,并搭建了实验系统。采用初始值偏移的方法对系统进行了校准,并运用该系统对Berek偏振补偿器样品进行了实验分析。实验结果表明,系统校准有效地消除了PEM和EOM的自身剩余双折射引入的测量误差;本文方案对剩余双折射值的测量精度和重复度分别优于99.16%和0.0082rad,剩余双折射的快轴方向角测量重复度为0.06°。本文方案具有工作稳定、重复度高、测量速率快、成本相对较低和系统利于工业自动化集成等应用优势。

关 键 词:物理光学 弹光调制  电光调制 剩余双折射  

分 类 号:O436]

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同被引文献:

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