期刊文章详细信息
反射光谱拟合法确定聚合物半导体薄膜光学常数和厚度
Determination of Optical Constants and Thickness of Polymer Semiconductor Thin Film with Reflectivity Fitting Method
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]西北稀有金属材料研究院宁夏特种材料重点实验室,宁夏石嘴山753000 [2]宁夏大学宁夏光伏材料重点实验室,宁夏银川750021
基 金:宁夏大学自然科学研究基金(ZR1236)
年 份:2016
卷 号:53
期 号:4
起止页码:247-252
语 种:中文
收录情况:BDHX、BDHX2014、CSCD、CSCD2015_2016、IC、JST、RCCSE、SCOPUS、WOS、ZGKJHX、核心刊
摘 要:光学常数(折射率和消光系数)是聚合物半导体薄膜器件结构设计和性能优化的重要参数。借助于ForouhiBloomer(F-B)色散模型,通过拟合P3HT:PCBM、MEH-PPV:PCBM体异质结薄膜以及聚合物导电薄膜PEDOT:PSS的反射率,计算得到其光学常数和厚度,拟合得到的反射率曲线和实验曲线符合良好。厚度拟合结果与表面轮廓仪测量结果误差小于3%。基于该方法,进一步分析了热退火对P3HT:PCBM薄膜表面形貌和光学常数的影响。研究结果表明,P3HT:PCBM薄膜在110℃退火后,折射率在550~700 nm波长范围内的峰值由1.95上升到2.16,同时,消光系数的峰值波长向长波长方向移动。
关 键 词:薄膜 光学常数 聚合物半导体薄膜 反射光谱 Forouhi-Bloomer色散模型
分 类 号:O436]
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