文献类型：期刊文章

作　　者：王毅[1,2] 蔡宇宏[1,2] 李正清[1,2] 李小金[1,2] 何丹[1,2] 郭兴[1] 王先荣[1] 王田刚[1,2]

机构地区：[1]兰州空间技术物理研究所真空技术与物理重点实验室,兰州730000 [2]无锡泓瑞航天科技有限公司,江苏无锡214000

出　　处：《真空与低温》

基　　金：真空低温技术与物理重点实验室基金(9140C550205140C55003)

年　　份：2016

卷　　号：22

期　　号：2

起止页码：119-123

语　　种：中文

收录情况：ZGKJHX、普通刊

摘　　要：借助双束加速器对黑色聚酰亚胺薄膜进行了高能电子辐照实验。分别通过SEM、ATR-FTIR及XPS考察了辐照前后黑色聚酰亚胺薄膜表面的形貌变化、表面化学结构与成分变化。结果表明,通过SEM观察发现,电子辐照后,黑色聚酰亚胺薄膜的表面变得更加粗糙。这可能是由于高能电子使PI/C表面上的弱键分解,从而改变了材料表面的结构,导致材料表面粗糙度增大。通过红外光谱分析发现,电子辐照后,PI/C表面大部分基团的吸收峰强度有所降低。这表明电子辐照使PI/C表面发生了复杂而显著的化学反应。其中黑色聚酰亚胺薄膜的吸收峰强度显著降低,表明材料在电子辐照过程中发生了开环反应。通过XPS分析发现,PI/C中的含氮量及含氧量显著降低,样品表层发生了脱氮及脱氧反应,也佐证了红外光谱表征中电子辐照可使黑色聚酰亚胺薄膜发生开环反应的结论。

关 键 词：高能电子 黑色聚酰亚胺  薄膜  结构  

分 类 号：V524.3]