期刊文章详细信息
基于FPGA的并行测试高速存储技术
The Parallel Test High Speed Data Storage Technology Based on FPGA
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]中北大学电子测试技术国家重点实验室,山西太原030051 [2]中国电子科技集团公司第十一研究所,山东青岛266555
年 份：2016
卷 号：6
期 号：4
起止页码：33-35
语 种：中文
收录情况：普通刊
摘 要：为实现并行测试系统高速数据的存储需求,利用FPGA(Field-Programmable Gate Array)以并行控制的特性,内部构建两级多通道并行缓存架构,设计了一种大幅提高数据存储速度的高效的实现方法。在硬件方面,利用多片NAND Flash构成多通道存储阵列,通过在通道间并行操作,通道内芯片的流水线操作,结合FPGA内部的高速数据缓存机制来解决数据存储的速度瓶颈。测试结果表明该模块具有存储速度高,扩展性强等特点,能广泛应用于高速海量数据存储需求。
关 键 词：并行测试 高速数据存储 FPGA NAND FLASH
分 类 号：TP274.2]
参考文献：
正在载入数据...
二级参考文献：
正在载入数据...
耦合文献：
正在载入数据...
引证文献：
正在载入数据...
二级引证文献：
正在载入数据...
同被引文献：
正在载入数据...
