文献类型：期刊文章

作　　者：许爱强[1] 唐小峰[1,2] 牛双诚[1] 杨智勇[1,3]

机构地区：[1]海军航空工程学院科研部 [2]中国人民解放军92514部队 [3]中国人民解放军91370部队

出　　处：《北京工业大学学报》

基　　金："泰山学者"建设工程专项经费资助项目;中国博士后科学基金资助项目(2013M542535)

年　　份：2016

卷　　号：42

期　　号：1

起止页码：128-133

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2014、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD_E2015_2016、IC、INSPEC、JST、MR、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、ZMATH、核心刊

摘　　要：为真实模拟集成电路中的桥接故障并评价测试集质量,提出一种基于静态电源电流(IDDQ)测试的逻辑电路门内电阻式桥接故障仿真算法.首先,针对该故障类型,提出一种覆盖率评价标准;其次,利用电路级故障注入与仿真方法构造基本逻辑门单元的故障字典;最后,通过在逻辑电路功能仿真中查询故障信息实现门级的故障仿真.仿真实验表明:相比于传统方法,所提方法能更好地反映测试集对真实桥接故障的覆盖效果,并具备良好的仿真效能.

关 键 词：超大规模集成电路(VLSI)测试  电阻式桥接故障  静态电源电流(IDDQ)测试  故障仿真 故障覆盖率  

分 类 号：TP391]