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期刊文章详细信息

利用线阵CCD非接触测量材料变形量的方法    

A method for measuring material deformation with linear CCD detectors

  

文献类型:期刊文章

作  者:王庆有[1,2] 于涓汇[1,2] 郭青[1,2] 张盛彬[1,2]

机构地区:[1]天津大学精密仪器与光电子工程学院 [2]光电信息技术科学教育部重点实验室,天津300072

出  处:《光电工程》

年  份:2002

卷  号:29

期  号:4

起止页码:20-23

语  种:中文

收录情况:BDHX、BDHX2000、CAS、CSCD、CSCD2011_2012、IC、JST、PROQUEST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘  要:用线阵CCD作为光电传感器非接触测量材料拉伸过程中的变形量,不但比常规的引伸计测量的方法更客观,而且可以测量材料拉伸变形到断裂的全过程。该方法能在X和Y两个方向上同时测量材料变形量,可以获得材料在实验的全过程中两个方向的"应力-应变"关系曲线。采用CCD拼接技术,测量精度可达到1mm,测量范围80mm。

关 键 词:CCD 非接触测量 材料变形量  应力测量 材料拉伸实验  

分 类 号:TG115.52]

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同被引文献:

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