期刊文章详细信息
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]天津大学精密仪器与光电子工程学院 [2]光电信息技术科学教育部重点实验室,天津300072
年 份:2002
卷 号:29
期 号:4
起止页码:20-23
语 种:中文
收录情况:BDHX、BDHX2000、CAS、CSCD、CSCD2011_2012、IC、JST、PROQUEST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊
摘 要:用线阵CCD作为光电传感器非接触测量材料拉伸过程中的变形量,不但比常规的引伸计测量的方法更客观,而且可以测量材料拉伸变形到断裂的全过程。该方法能在X和Y两个方向上同时测量材料变形量,可以获得材料在实验的全过程中两个方向的"应力-应变"关系曲线。采用CCD拼接技术,测量精度可达到1mm,测量范围80mm。
关 键 词:CCD 非接触测量 材料变形量 应力测量 材料拉伸实验
分 类 号:TG115.52]
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