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期刊文章详细信息

利用快速退火法从非晶硅薄膜中生长纳米硅晶粒    

Growth of nanoscale silicon particles in a-Si:H films by rapid thermal annealing method

  

文献类型:期刊文章

作  者:薛清[1] 郁伟中[2] 黄远明[1]

机构地区:[1]南阳理工学院材料研究中心,河南南阳473004 [2]清华大学物理系,北京100084

出  处:《物理实验》

年  份:2002

卷  号:22

期  号:8

起止页码:17-20

语  种:中文

收录情况:BDHX、BDHX2000、核心刊

摘  要:报道了一种从非晶硅薄膜中生长纳米硅晶粒的方法 .含氢非晶硅薄膜经过快速热退火处理后 ,用拉曼散射和 X射线衍射技术对样品进行分析 .实验结果表明 :纳米硅晶粒不但能在非晶硅薄膜中形成 ,而且所形成的纳米硅晶粒的大小随着热退火过程中升温快慢而变化 .在升温过程中 ,若单位时间内温度变化量较大 (~ 10 0℃ / s) ,则所形成纳米硅粒较小 (1.6~ 15 nm) ;若单位时间内温度变化量较低 (~ 1℃ / s) ,则纳米硅粒较大 (2 3~ 4 6 nm) .根据晶体生长理论和计算机模拟 。

关 键 词:非晶硅薄膜 纳米硅晶粒  拉曼散射 快速热退火 X射线衍射 晶体生长

分 类 号:TN304.12] O782]

参考文献:

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引证文献:

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同被引文献:

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