文献类型：期刊文章

作　　者：赵锋[1] 李胜利[2] 李晋城[1] 王小希[2] 崔红梅[1] 吴鹏飞[2] 喻培元[2]

机构地区：[1]国网河南省电力公司济源供电公司,济源459000 [2]华中科技大学环境科学与工程学院,武汉430074

出　　处：《高电压技术》

基　　金：国家自然科学基金(51077062)~~

年　　份：2015

卷　　号：41

期　　号：11

起止页码：3866-3871

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2014、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2015_2016、EI(收录号：20155101700292)、IC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：气体绝缘开关设备(GIS)中SF6在局部放电的情况下会产生分解产物,其含量通常远低于SF6的含量,用气相色谱法很难进行有效的检测。为提高这些分解产物的含量,根据SF6与SO2F2、SOF2及SF4不同的熔点和沸点,以质量为2 g的硅胶作为吸附剂,设计了1套高低温冷阱实验方案,利用此方案实验研究了SO2F2、SOF2及SF4的低温吸附与高温解吸附情况。研究结果表明:SO2F2、SOF2、SF4的最佳吸附温度分别为-50℃、-50℃、-40℃,最佳解吸附温度均为30℃;对应的吸附质量分别为956.24μg、3 266.72μg、1 361.40μg,解吸附质量分别为637.69μg、49.40μg、552.14μg。同时,研究了同等条件下对SF6气体的吸附与解吸附情况,得出从SF6中分离SO2F2、SOF2及SF4并将它们从低含量富集到高含量是可行的。

关 键 词：局部放电 SF6分解产物  吸附剂 富集分离  高低温冷阱  解析  故障诊断

分 类 号：TM595]