登录    注册    忘记密码

期刊文章详细信息

衰减全反射红外光谱法测定羟基硅油中的羟基含量    

Determination of Hydroxyl Content in Hydroxyl Silicone Oil by Attenuated Total Reflection Infrared Spectroscopy

  

文献类型:期刊文章

作  者:程顺弟[1] 陈卫东[1] 刘雪梅[1] 吴云华[1]

机构地区:[1]蓝星股份江西星火有机硅厂,江西永修330300

出  处:《有机硅材料》

年  份:2015

卷  号:29

期  号:5

起止页码:395-398

语  种:中文

收录情况:CAS、JST、ZGKJHX、普通刊

摘  要:根据羟基硅油的红外光谱中Si—OH基在3 280 cm-1附近的特征吸收峰的吸光度强度,建立了采用衰减全反射-傅里叶变换红外光谱法测定羟基硅油中羟基含量的方法。采用该方法时,羟基硅油的羟基质量分数在1.01%~8.85%范围内与其红外吸收峰吸光度有良好的线性,相关系数为0.9996;精密度实验的相对标准偏差均小于2%;样品分析结果与反应色谱法接近,相对误差不大于5%。本方法简便、快速,数据准确、可靠,适合于测定羟基硅油的羟基含量。

关 键 词:衰减全反射红外光谱  羟基硅油 羟基 吸收峰  

分 类 号:TQ264.1] O657.33]

参考文献:

正在载入数据...

二级参考文献:

正在载入数据...

耦合文献:

正在载入数据...

引证文献:

正在载入数据...

二级引证文献:

正在载入数据...

同被引文献:

正在载入数据...

版权所有©重庆科技学院 重庆维普资讯有限公司 渝B2-20050021-7
 渝公网安备 50019002500408号 违法和不良信息举报中心