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期刊文章详细信息

高电流密度通孔电镀铜影响因素的研究    

The Influence Factors of Through-hole Copper Plating at High Current Densities

  

文献类型:期刊文章

作  者:陈杨[1] 程骄[2,3] 王翀[1,2] 何为[1,2] 朱凯[1] 肖定军[2]

机构地区:[1]电子科技大学应用化学系,四川成都610054 [2]广东光华科技股份有限公司,广东汕头515061 [3]广东东硕科技有限公司,广东广州510663

出  处:《电镀与精饰》

基  金:国家自然科学基金(编号61474019);广东省引进创新科研团队计划(编号:201301C0105324342)资助

年  份:2015

卷  号:37

期  号:8

起止页码:23-27

语  种:中文

收录情况:AJ、BDHX、BDHX2014、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、JST、RCCSE、ZGKJHX、核心刊

摘  要:印制电路板在垂直连续电镀生产线上镀铜,通过改进电镀槽结构,引入喷流加强溶液交换等措施,能够使用更大的电流密度,大幅度提高产能。由于搅拌强度、电流密度和阴阳极距离等工艺条件发生改变,为了使微通孔电镀铜效果达到最优,对镀液成分配比进行优化实验。通过对镀铜层切片分析,确定光亮剂浓度和电流密度为影响电镀的显著因素。在优化控制条件下,采用的电镀液对厚径比为6.4∶1.0的通孔(d=0.25 mm)镀铜,铜层的均镀能力达到80%以上,具有很好的实用价值。

关 键 词:印制电路板 高速电镀铜  优化实验设计  添加剂 均镀能力

分 类 号:TQ153.14]

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同被引文献:

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