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氮气体积浓度对高微波功率沉积金刚石膜的影响
Influence of nitrogen concentration on the deposition of diamond films with high microwave power
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]武汉工程大学材料科学与工程学院,湖北省等离子体化学与新材料重点实验室,武汉430074
基 金:国家自然科学基金(No.11175137)
年 份:2015
卷 号:35
期 号:3
起止页码:23-28
语 种:中文
收录情况:AJ、CAS、IC、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、普通刊
摘 要:本研究在实验室自制的10kW圆柱形多模谐振腔式MPCVD装置中,研究了高功率沉积环境下,氮气在不同基片温度下对沉积的金刚石膜的影响。利用SEM表征对金刚石膜表面形貌的变化进行了分析,并结合Raman以及XRD的表征结果,分析了不同沉积温度下,氮气体积浓度与金刚石膜质量和晶粒尺寸间的关系。结果表明:引入氮气会同时起到提高沉积速率和增加二次形核的作用,并且金刚石膜的质量会随氮气体积浓度的增加而下降。随着基片温度的降低,N2对金刚石膜的影响将更多的表现为增加二次形核率。在基片温度为750℃时,通过研究不同氮气体积浓度下金刚石膜晶粒尺寸和结晶度的变化,得出当氮气体积浓度保持在0.03%-0.07%之间时,能获得晶粒尺寸为50nm左右且结晶度较好的纳米金刚石膜。
关 键 词:氮气体积浓度 高功率 微波等离子体 化学气相沉积 金刚石膜
分 类 号:TQ164]
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