文献类型：期刊文章

作　　者：金立桥[1] 车兴凯[1] 张子山[1] 高辉远[1]

机构地区：[1]山东农业大学生命科学学院/作物生物学国家重点实验室,山东泰安271018

出　　处：《植物生理学报》

基　　金：高等学校博士学科点专项科研基金项目(20113702110008);国家自然科学基金(31370276)

年　　份：2015

卷　　号：51

期　　号：6

起止页码：969-976

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2014、CAB、CAS、CSCD、CSCD_E2015_2016、IC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：快速荧光OJIP曲线中的Wk参数被广泛作为放氧复合体(OEC)即PSII供体侧伤害的重要指标。然而Wk这一参数的变化不仅受PSII供体侧伤害的影响,而且还会受到PSII受体侧伤害的影响。很多研究者在使用Wk这个参数时忽略了这个问题。为了阐明PSII供体侧和受体侧伤害程度对Wk影响的规律,我们通过不同温度和强光处理,获得不同PSII供体侧和受体侧伤害的黄瓜叶片,进而分析Wk变化与其供体侧和受体侧伤害程度之间的关系。研究结果表明:用高温黑暗处理黄瓜叶片后,其PSII供体侧受到严重的伤害,此时,Wk随着供体侧伤害程度的增加而显著增加,在这种情况下,Wk的增加直接反映了OEC的伤害程度;但是当用强光和高温共同处理黄瓜叶片后,造成PSII供体侧和受体侧同时伤害时,如果供体侧的伤害程度大于受体侧的伤害程度时,Wk仍然升高,然而,当受体侧的伤害程度大于供体测定伤害程度时,Wk不再显著升高。因此在植物叶片的供体侧和受体共同受到伤害时,要慎重使用Wk这一参数来判断OEC的伤害程度。本文对Wk在不同供体侧和受体侧伤害条件下的变化规律进行了详细的研究,并对如何正确使用Wk来反映逆境对植物叶片OEC的伤害程度进行了探讨,该研究结果可以对正确利用叶绿素快速荧光OJIP分析提供指导。

关 键 词：快速叶绿素荧光  PSII供体侧  PSII受体侧  放氧复合体(OEC)  Wk  

分 类 号：S642.2]