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期刊文章详细信息

基于红外测温的零值和污秽绝缘子快速检测试验研究    

Fast Detection of Zero Insulator and Polluted Insulator Based on Infrared Temperature Measurement

  

文献类型:期刊文章

作  者:陈勇[1] 郭俊峰[2] 邬小均[2]

机构地区:[1]重庆市电力公司万州供电局,重庆404000 [2]重庆润创科技有限公司,重庆400050

出  处:《高压电器》

年  份:2015

卷  号:51

期  号:6

起止页码:191-194

语  种:中文

收录情况:AJ、BDHX、BDHX2014、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD_E2015_2016、IC、INSPEC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘  要:红外测温技术具有不接触、不停运、不取样、检测速度快的优点,是绝缘子运行状态在线检测的重要方法之一。文中在绝缘子发热机理和红外热像技术的原理上,立足电力工作中零值和污秽绝缘子快速检测,分别对零值绝缘子位于绝缘子串不同位置时红外测温试验对比,以及对污秽绝缘子串与清洁串的红外测温对比,试验结果表明,当绝缘子串有严重污秽和零值绝缘子存在时,其热像表征图像发生明显的突变。此外,当零值绝缘子位于串中靠近高压端时,其热像图像显示零值绝缘子与相邻正常绝缘子平均温差最大,位于中部时与相邻正常绝缘子平均温差最小,位于低压端时为高压端和中部之间,因此可利用红外测温技术通过精度较高的红外热像仪对串中零值绝缘子和污秽绝缘子快速辨别。

关 键 词:红外测温 发热功率 污秽绝缘子 零值绝缘子

分 类 号:TM216[材料类]

参考文献:

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引证文献:

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同被引文献:

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