期刊文章详细信息
低压电器通断能力试验电路设置对试验恢复电压的影响
Analysis of Influence of Making & Breaking Capability Test Circuit to Test Recovery Voltage
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]苏州西门子电器有限公司,江苏苏州215129
年 份：2015
期 号：8
起止页码：26-29
语 种：中文
收录情况：普通刊
摘 要：通过对低压电器通断能力试验的分析,从试验电路设置的角度对影响通断能力试验恢复电压的几个电路特性参数进行相应的调节设置,使其在满足标准规定的要求基础上,调试出试验所需的恢复电压,满足试验要求。通过理论与实例的分析与判断,对试验电路设置过程中影响恢复电压的几个比较常见的认识盲区进行了阐述与分析,可为检测试验站进行线路调节设置与结果判断提供参考。
关 键 词：低压电器 通断能力试验 电路设置 恢复电压
分 类 号：TM506]
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