期刊文章详细信息
扫描电镜中背散射电子成像功能的应用
Application of Back Scattered Electron Imaging Function in Scanning Electron Microscopy
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]苏州大学分析测试中心,江苏苏州215123
年 份：2015
卷 号：21
期 号：1
起止页码：54-57
语 种：中文
收录情况：CAS、普通刊
摘 要：简单介绍了扫描电镜背散射电子成像的工作原理及其应用.利用扫描电镜背散射电子成像结合X-射线能谱来研究样品的微区成分变化,从而快速的了解样品的组成和结构特征,为物相的鉴别提供了有效的分析手段.
关 键 词：扫描电镜 背散射 成分衬度
分 类 号：O657.62]
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