文献类型：期刊文章

作　　者：张旭[1] 王世斌[1] 李林安[1] 王志勇[1] 韩家广[2]

机构地区：[1]天津大学机械工程学院力学系,天津300072 [2]天津大学精密仪器与光电子工程学院太赫兹研究中心,天津300072

出　　处：《实验力学》

基　　金：国家自然科学基金(11102130)资助

年　　份：2015

卷　　号：30

期　　号：1

起止页码：17-22

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2014、CSCD、CSCD2015_2016、JST、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：本文提出了一种基于太赫兹光谱技术的平面应力状态测量方法。该方法在传统的太赫兹时域光谱系统中引入起偏镜和检偏镜,实现了对太赫兹脉冲偏振态的调控。针对该实验系统,建立了试件所受应力与穿透试件的太赫兹波相位延迟之间的定量关系,并提出了根据实验所测太赫兹波相位延迟计算平面应力状态三个应力参量的数据处理方法。将该方法得到的实验结果和应变仪测量的结果作对比,发现两种方法有很好的一致性,证明此实验方法合理可靠。

关 键 词：太赫兹光谱系统  相位变化  应力分量

分 类 号：O348.1]