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期刊文章详细信息

能量过滤磁控溅射技术室温制备ITO膜的光电特性及其应用  ( EI收录)  

Properties and Application of Indium-Tin-Oxide Coatings Deposited by Energy Filtering Magnetron Sputtering at Room Temperature

  

文献类型:期刊文章

作  者:张清清[1] 王朝勇[1,2] 程祖华[1] 韩昌报[1] 姚宁[1]

机构地区:[1]郑州大学物理工程学院材料物理教育部重点实验室,郑州450052 [2]河南城建学院数理学院,平顶山467036

出  处:《真空科学与技术学报》

基  金:国家自然科学基金资助项目(No.61076041);河南省重点科技攻关计划项目(No.122102210099);河南省教育厅自然科学基础研究计划项目(No.12B140017)

年  份:2015

卷  号:35

期  号:1

起止页码:18-22

语  种:中文

收录情况:BDHX、BDHX2014、CAS、CSCD、CSCD_E2015_2016、EI(收录号:20151700789807)、JST、RSC、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘  要:利用在直流反应磁控溅射(DMS)技术基础上改进的能量过滤磁控溅射(EFMS)技术制备了1TO薄膜,并将其应用于顶发射有机电致发光器件(TOLED)的阳极。利用x射线衍射、原子力显微镜、椭圆偏振光谱仪和四探针方块电阻测试仪分析了薄膜的结构、表面形貌、光学和电学特性,利用自搭建的电压一电流密度.发光效率测试系统测量了TOLED器件的发光效率。结果表明,与DMS技术相比,EFMS技术可有效抑制对有机功能层的溅射损伤,制备的ITO薄膜表面更平整,晶粒尺寸更细小,而且具有优良的光学和电学性能(400.800mm波长范围的平均透射率为87.1%;方块电阻低至4.56×10^-4Ω·cm)。以该薄膜为阳极的TOLED器件的发光效率显著提高,在3.26mA/cm2的电流密度下发光效率达到0.09lm/W。

关 键 词:能量过滤磁控溅射  直流反应磁控溅射 顶发射有机电致发光器件  ITO薄膜

分 类 号:O469]

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同被引文献:

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