文献类型：期刊文章

作　　者：吴闻迪[1,2,3] 王会丽[1] 周田华[2,3] 周军[2,3] 吴福全[1]

机构地区：[1]曲阜师范大学激光研究所,山东曲阜273165 [2]中国科学院上海精密光学机械研究所,上海201800 [3]上海市全固态激光器与应用技术重点实验室,上海201800

出　　处：《中国激光》

基　　金：上海市全固态激光器与应用技术重点实验室开放课题(2012ADL02);山东省高等学校科技计划项目(J13LJ06)

年　　份：2014

卷　　号：41

期　　号：12

起止页码：206-210

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2011、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2013_2014、EI(收录号：20145300387509)、IC、INSPEC、JST、RCCSE、RSC、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：为了对双折射滤波器中晶体片厚度需要达到的精度进行定量分析,根据双折射滤波器的滤波原理,引入了晶体片材料的双折射率色散,得出了晶体片的厚度偏差、相位延迟量偏差、目标波长移动量之间的关系,最后进行了模拟验证。结果表明,对于铌酸锂晶体制作的晶体片,材料的双折射率色散是不可忽略的,基于它得到的厚度精度是保证滤波器性能的必要条件,这些研究结论对于高性能双折射滤波器的实际制作有重要的参考价值。

关 键 词：光学器件 偏振光学 双折射滤波器  偏振干涉  厚度精度 滤波性能

分 类 号：O436.3]