文献类型：期刊文章

作　　者：郑志月[1] 施玉书[2,3] 高思田[2] 李东升[1] 李伟[2] 李适[2] 李庆贤[4]

机构地区：[1]中国计量学院计量测试工程学院,浙江杭州310018 [2]中国计量科学研究院,北京100029 [3]天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室,天津300072 [4]苏州市计量测试研究所,江苏苏州215128

出　　处：《计量学报》

基　　金：国家科技支撑计划(2011BAK15B09);国家重大科学仪器设备开发专项(2011YQ03011208)

年　　份：2015

卷　　号：36

期　　号：1

起止页码：14-18

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2014、CSCD、CSCD2015_2016、JST、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：介绍一种使用激光干涉仪结合单轴精密位移台对电容式位移传感器进行校准的方法。建立了一套高精度电容式位移传感器校准装置，利用单轴精密位移台位移与电压之间的关系产生纳米级的微小位移，同时使用激光干涉仪和待校准电容式位移传感器测量单轴精密位移台的微小位移。该装置可实现电容式位移传感器线性度、测量重复性以及测量分辨率的校准。实验验证了此校准方法的准确性和实用性，对影响校准的主要因素进行了分析，其综合不确定度为2．2nm。

关 键 词：计量学 纳米计量  电容式位移传感器 单轴精密位移台  激光干涉仪

分 类 号：TB92]