文献类型：期刊文章

作　　者：万利[1] 周凯[1] 李旭涛[2] 吴科[1]

机构地区：[1]四川大学电气信息学院,成都610065 [2]国网宁夏电力公司电力科学研究院,银川750011

出　　处：《高电压技术》

基　　金：国家自然科学基金(51477106)~~

年　　份：2014

卷　　号：40

期　　号：12

起止页码：3709-3716

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2011、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2013_2014、EI(收录号：20150300435985)、IC、INSPEC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：为了研究气隙缺陷导致电缆终端绝缘失效的机理,基于电场分析探讨了终端气隙的局部放电发展过程。建立了终端气隙缺陷的有限元模型并进行了电场理论计算,阐述了气隙对终端电场分布的影响并分析了气隙沿电缆轴向和径向的电场强度特征,讨论了气隙参数与终端气隙内电场强度最大值之间的关系。进而,通过实验终端电热老化实验中的局部放电检测发现,运行条件下终端气隙缺陷放电迅速发展,在不同的老化阶段表现出不同的放电特征。同时,观察老化前后的气隙缺陷发现,老化后气隙内的绝缘毛刺被烧蚀,通道狭长平滑。结合气隙的电场特征分析说明,半导电层截断位置集中的电场导致此处的气隙更容易发生局部放电,而放电表现出的阶段性差异与气隙通道的逐渐贯穿密切相关,通过简化的放电模型可以描述气隙的放电发展机理。

关 键 词：电缆终端 气隙缺陷 有限元仿真 电场分析 局部放电 发展机理  

分 类 号：TM75]