文献类型：期刊文章

作　　者：李天义[1,2] 耿跃华[3] 富坤[1] 张梅芳[1]

机构地区：[1]河北工业大学计算机科学与软件学院 [2]中国人民解放军93642部队 [3]河北工业大学电气与自动化学院

出　　处：《自动化仪表》

基　　金：国家自然科学基金青年基金资助项目(编号:31100711);河北省高等学校科学技术研究青年基金资助项目(编号:20111122)

年　　份：2014

卷　　号：35

期　　号：11

起止页码：60-63

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2011、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、INSPEC、RCCSE、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：针对传统数字芯片测试设备检测芯片固定、PC机软件不可扩展、测试电路复杂等问题,设计了一种新型数字芯片测试仪。仪器设计为上位机和下位机两部分,并着重突出了上位机的作用。对组成上位机的编译模块、数据管理模块、SQLite数据库、测试模块和串口设置模块进行了研究,同时对以PL2303芯片为主的串口通信模块和以STC89C52为控制芯片的下位机电路进行了设计。系统能够准确地检测组合逻辑芯片、定位故障点,并能动态生成测试集、扩展可测组合逻辑芯片。

关 键 词：编译功能  SQLITE数据库 芯片测试 测试集 结果集 故障检测

分 类 号：TP36]