文献类型：期刊文章

作　　者：龚仓[1] 李高湖[1] 付桂花[1] 唐鑫[1] 黄艳波[1]

机构地区：[1]武警黄金第十二支队化验室,成都611732

出　　处：《分析试验室》

年　　份：2014

卷　　号：33

期　　号：10

起止页码：1220-1224

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2011、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2013_2014、JST、PROQUEST、RCCSE、RSC、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：利用Axios X射线荧光光谱仪,借助粉末压片制样测定了富砷地质样品中As,S,Ti,V,Cr,Mn,Zr,Co,Ni,Cu,Zn,Mo,Ba,Pb,SiO2,Al2O3,Fe2O3,MgO,CaO,Na2O和K2O等21种主次痕量元素,用理论α系数校正基体效应,用强度方式计算重叠系数校正重叠干扰。实验结果表明,该方法除Mo的检出限0.8μg/g超出地球化学普查要求检出限0.5μg/g外,其它元素满足要求;除元素Mo的均值方根高于2倍相对计数统计误差外,其它元素的均值方根均小于2倍相对计数统计误差,且绝大多数元素的均值方根(n=12)都小于1.0%;另外,对国家标准物质的测试结果与标准值相一致。将本方法用于实际样品的测试,分析结果与其它化学分析方法相符。

关 键 词：X射线荧光光谱法 基体效应  地质样品 砷 粉末样压片  

分 类 号：O657.3]