文献类型：期刊文章

作　　者：刘利萍[1,2] 吴涛[1,2] 刘俊豪[1,2] 叶超前[1,2] 陆相晚[1,2] 崔完鎔[1,2]

机构地区：[1]合肥鑫晟光电科技有限公司,安徽合肥230012 [2]合肥京东方光电科技有限公司,安徽合肥230012

出　　处：《液晶与显示》

年　　份：2014

卷　　号：29

期　　号：5

起止页码：697-702

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2011、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD_E2013_2014、EBSCO、IC、INSPEC、JST、RCCSE、SCOPUS、WOS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：通过对大量Zara样品进行分析,构建了不良现象——对应原因（Phenomenon Cause）的4种理论模式,并基于此理论设计了改善Zara的实验.通过分析发现：约5μm左右可移动的Zara主要为摩擦工艺过程产生的碎屑;10～25 μm按压不动的Zara主要为取向膜涂覆过程中的颗粒引起;轮廓清晰尺寸较大的Zara主要来自环境颗粒;无清晰轮廓且体积较大的Zara主要为摩擦取向失效形成的岛状漏光.为降低Zara不良进行实验,结果显示：增加取向膜在基板上的覆盖率以及变更彩膜涂层材料可有效降低Zara不良的发生率;此外,减小柱状隔垫物的坡度角度能够从源头上有效防止Zara的产生.Zara不良的研究与改善提升了小尺寸FFS产品的良率5％以上,为企业的稳定高效生产奠定了基础.

关 键 词：TFT—LCD  小尺寸 ZARA 分类  

分 类 号：TN87]