文献类型：期刊文章

作　　者：陈晨[1,2,3] 徐微[3] 张善从[2,3]

机构地区：[1]中国科学院大学,北京100190 [2]中国科学院空间应用工程与技术中心,北京100094 [3]北京国科环宇空间技术有限公司,北京100190

出　　处：《电子测量技术》

年　　份：2014

卷　　号：37

期　　号：9

起止页码：70-78

语　　种：中文

收录情况：JST、RCCSE、ZGKJHX、普通刊

摘　　要：通过分析Flash型FPGA芯片的基本结构和应用需求,设计了针对各个FPGA功能模块的试验方法,并实现了一套单粒子效应测试系统。对Actel ProASIC3系列Flash型FPGA进行单粒子翻转(SEU)、单粒子功能中断(SEFI)以及单粒子闩锁(SEL)等各类单粒子效应进行测试,并验证抗单粒子效应加固技术的有效性。测试系统包含硬件板卡设计、FPGA逻辑设计以及上位机软件设计等过程,并引入了自动测试技术优化测试流程。最终,测试系统能够满足单粒子效应试验的要求。

关 键 词：Flash型FPGA  单粒子效应 加固技术验证  自动测试  

分 类 号：V19]