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期刊文章详细信息

IC封装中键合线传输结构的仿真分析    

Analysis of the Performance of Bonding Wire Transmission Structure in IC Package

  

文献类型:期刊文章

作  者:杨玲玲[1,2] 孙玲[2] 孙海燕[2]

机构地区:[1]南通大学杏林学院,江苏南通226019 [2]南通大学江苏省专用集成电路设计重点实验室,江苏南通226019

出  处:《电子与封装》

年  份:2014

卷  号:14

期  号:9

起止页码:1-4

语  种:中文

收录情况:普通刊

摘  要:随着高频高速集成电路制造工艺的不断进步,电子封装技术的发展也登上了一个新高度。作为微电子器件制造过程中的重要步骤之一,封装中的传输线、过孔、键合线等互连结构都可能对电路的性能产生影响,因此先进的集成电路封装设计必须要进行信号完整性分析。介绍了一种键合线互连传输结构,采用全波分析软件对模型进行仿真,着重分析与总结了键合线材料、跨距、拱高以及微带线长度、宽度五种关键设计参数对封装系统中信号完整性的影响,仿真结果对封装设计具有实际的指导作用。

关 键 词:键合线传输结构  IC封装 信号完整性

分 类 号:TN305.94]

参考文献:

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引证文献:

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同被引文献:

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