期刊文章详细信息
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]北京青云航空仪表有限公司,北京100086 [2]北京精密机电控制设备研究所,北京100076
年 份:2014
卷 号:33
期 号:8
起止页码:57-60
语 种:中文
收录情况:JST、RCCSE、ZGKJHX、普通刊
摘 要:BIT(built-in test)技术是影响机载电子设备的测试性、维修性和保障性的关键问题之一,如何合理有效地设计BIT是BIT技术研究的重要内容。首先,对BIT技术发展的现状进行总结并指出所存在的问题。然后,结合实际工程经验总结出了规范BIT设计的要求和方法,同时对BIT中常出现的虚警问题进行了原因分析,并分别从软件和硬件上给出了减少虚警的方法。实践表明,以上方法能有效的减少虚警的出现。
关 键 词:电子设备 机内自测试 虚警
分 类 号:TN06] TP206.1]
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