期刊文章详细信息
采用CCD的非接触测量中提高精度的一种方法 ( EI收录)
Method for improving precision in noncontact measurement by linear CCD
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]上海交通大学信息检测技术及仪器系,上海200030
年 份：2002
卷 号：10
期 号：3
起止页码：281-284
语 种：中文
收录情况：AJ、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI、IC、INSPEC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、普通刊
摘 要：利用CCD传感器对工件进行测量是非接触测量领域的常用方法 ,但受到CCD像元特征尺寸的限制 ,测量精度往往只能达到微米级 ,限制了该系统在非接触测量方面的更广泛应用。本文从算法角度提出了一种提高CCD精度的方法。实验证明 。
关 键 词：电荷耦合器件 尺寸测量 边缘检测 梯度 测量精度
分 类 号：TG8] TN386.5]
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