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期刊文章详细信息

电子产品的贮存可靠性研究  ( EI收录)  

Study of Storage Reliability of Electronic Products

  

文献类型:期刊文章

作  者:潘永跃[1] 丁武学[2]

机构地区:[1]南京电视台,南京210001 [2]南京理工大学机械工程学院,南京210094

出  处:《南京理工大学学报》

年  份:2002

卷  号:26

期  号:1

起止页码:31-34

语  种:中文

收录情况:AJ、BDHX、BDHX2000、CAS、CSCD、CSCD_E2011_2012、EI、IC、INSPEC、JST、RCCSE、SCOPUS、UPD、ZGKJHX、核心刊

摘  要:该文研究无线电及电子产品的贮存可靠性问题 ,针对某典型无线电产品建立仿真分析的数学模型 ,进行加速寿命试验 ,以试验数据为基础建立“三大关系” ,进而完成了仿真分析 ,得出电子产品贮存失效的基本规律 ,确定电子产品的具体可靠贮存年限 。

关 键 词:贮存  可靠性 电子产品 加速寿命试验

分 类 号:TN07]

参考文献:

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二级参考文献:

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耦合文献:

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引证文献:

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二级引证文献:

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同被引文献:

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