期刊文章详细信息
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]成都理工大学应用化学系 [2]成都理工大学材料科学与工程系,成都610059
年 份:2002
卷 号:16
期 号:6
起止页码:71-73
语 种:中文
收录情况:CAS、CSCD、CSCD2011_2012、EI、IC、JST、RCCSE、SCOPUS、UPD、ZGKJHX、普通刊
摘 要:晶格畸变率是纳米柱子的一个重要参数。用X射线衍射积分宽度法确定了纳米CeO_2粒子的晶格畸变率,研究了晶格畸变与晶粒度之间的关系,结合已有资料讨论了纳米粒子晶格畸变率的数量级大小。结果表明,不合理的计算方法可能会导致计算出来的晶格畸变值严重失实。
关 键 词:畸变率 数量级 纳米粒子 晶格畸变 X射线衍射 积分宽度法 二氧化铈 结构
分 类 号:TB383[材料类] O712]
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