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期刊文章详细信息

纳米材料的概述、制备及其结构表征  ( SCI收录)  

Preparation and Structure Characterizations of Nanosized Materials

  

文献类型:期刊文章

作  者:蔡元霸[1] 梁玉仓[1]

机构地区:[1]结构化学国家重点实验室

出  处:《Chinese Journal of Structural Chemistry》

年  份:2001

卷  号:20

期  号:6

起止页码:425-438

语  种:中文

收录情况:BDHX、BDHX2000、CAS、CSCD、CSCD2011_2012、JST、SCI(收录号:WOS:000172413400001)、SCI-EXPANDED(收录号:WOS:000172413400001)、SCIE、SCOPUS、WOS、核心刊

摘  要:纳米材料在电子、光学、化工、陶瓷、生物和医药等诸多方面的重要应用而引起人们的高度重视。本文从以下3个方面加以论述。 一、纳米材料的概述:从分子识别、分子自组装、吸附分子与基底的相互关系、分子操作与分子器件的构筑,并通过具体的例证加以阐述,包括在STM操作下单分子反应;有机小分子在半导体表面的自指导生长;多肽-半导体表面特异性选择结合;生物分子/无机纳米组装体;光驱动多组分三维结构组装体;DNA分子机器。 二、纳米材料的若干制备方法和结构表征方法:制备方法包括:物理的蒸发冷凝法,分子束外延法(MBE),机械球磨法,扫描探针显微镜法(SPM)。化学的气相沉淀法(VCD),液相沉淀法,溶胶-凝胶法(Sol-gel),L-B膜法,自组装单分子层和表面图案化法,水热/溶剂热法,喷雾热解法,样板合成法或化学环境限制法及自组装法。 三、若干结构表征方法包括:X-射线法(XRD),扩展X射线精细结构吸收谱(EXAFS),X-射线光电子能谱(XPS),光谱法,扫描隧道显微镜/原子力显微镜(STM/AFM)和有机质谱法(OMS)。

关 键 词:纳米材料 制备  自组装 结构表征  纳米器件  物理方法 化学方法

分 类 号:TB383[材料类]

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同被引文献:

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