文献类型：期刊文章

作　　者：陈卫[1] 孙世刚[1]

机构地区：[1]厦门大学固体表面物理化学国家重点实验室,化学系,物化所,福建厦门361005

出　　处：《光谱学与光谱分析》

基　　金：国家自然科学基金"九五"重点项目 (2 98330 60 );教育部科学技术重点研究项目 (991 77)

年　　份：2002

卷　　号：22

期　　号：3

起止页码：504-510

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2000、CAS、CSCD、CSCD2011_2012、EI、IC、INSPEC、JST、PUBMED、RCCSE、RSC、SCI(收录号：WOS:000176675600050)、SCI-EXPANDED(收录号：WOS:000176675600050)、SCIE、SCOPUS、WOS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：谱学分析方法是研究纳米体系结构和性能的重要手段之一 ,对纳米材料进行深入研究离不开各种谱学方法的表征。本文综述了常用的谱学方法 ,如紫外可见光谱、红外光谱、拉曼光谱、穆斯堡尔谱、正电子湮没及光声光谱等在纳米材料研究中的最新进展。结合典型实例 ,对各种谱学方法的原理、特点以及在纳米体系研究中所能提供的重要信息进行了归纳和分析。展望了谱学分析方法在纳米科技研究中进一步的应用前景 ,以及在纳米材料研究中建立纳米尺度分辨的谱学检测方法和发展新的谱学技术等重要的发展方向。

关 键 词：谱学表征 纳米材料 结构  性能  光声光谱 紫外-可见光谱 红外光谱 拉蔓光谱  

分 类 号：TB383[材料类] O433]