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原子力显微镜发展近况及其应用
The development for atomic force microscopy recently and the brief introduction of application
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]军事医学科学院国家生物医学分析中心
年 份：2002
期 号：3
起止页码：6-9
语 种：中文
收录情况：普通刊
摘 要：扫描隧道显微镜(简称STM)和原子力显微镜(简称AFM),它们也可统称为扫描探针显微镜(简称SPM)。原子力显微镜(AFM) 是近十几年来表面成像技术中最重要的进展之一。与扫描电子显微镜相比,它具有较高的分辨率。本文将讨论原子力显微镜的工作原理、原子力显微镜的发展概况和应用。
关 键 词：原子力显微镜 分辨率 工作原理 发展概况
分 类 号：TH741.8]
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