期刊文章详细信息
MOS集成电路ESD保护技术研究
Study on the ESD Protection Technology of MOS IC
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]东北微电子研究所,沈阳110032
年 份：2002
卷 号：30
期 号：1
起止页码：24-28
语 种：中文
收录情况：普通刊
摘 要：重点论述了ESD失效模式失效机理和MOS集成电路ESD保护电路
关 键 词：MOS集成电路 ESD保扩技术 失效模式 失效机理
分 类 号：TN432]
参考文献：
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