文献类型：期刊文章

作　　者：蔡红红[1] 卜忍安[1] 王文江[1]

机构地区：[1]西安交通大学电子物理与器件研究所,陕西西安710049

出　　处：《发光学报》

基　　金：国家攻关项目基金资助项目 ( 97 771 0 1 0 1)

年　　份：2002

卷　　号：23

期　　号：2

起止页码：197-200

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2000、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI、INSPEC、JST、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：彩色等离子体平板显示器件已经成为信息显示领域重要发展方向之一 ,荧光粉对PDP器件的性能起着决定性的作用。PDP中的荧光粉是通过丝网印刷的方法涂敷的。荧光粉在制成丝网印刷用荧光粉浆料过程中 ,以及制成PDP器件的过程中 ,都可能使荧光粉的性能降低 ,这就是工序劣化。在制成PDP器件后 ,荧光粉的性能还会随着使用时间的延长进一步降低 ,这就是历时劣化。本文分析了荧光粉的工序劣化和历时劣化产生的原因 ,设计制作了单色PDP试验屏 ,采用CRTColorAnalyzer(CA 1 0 0 )测量了荧光粉在PDP器件中的色坐标 ,并与荧光粉生产厂家提供的色坐标进行比较 ,从而获得了荧光粉的工序劣化和历时劣化值。试验结果表明 ,绿粉 (Zn2 SiO4 ∶Mn2 + )和蓝粉 (BaMgAl10 O17∶Eu2 + )的工序劣化较严重 ,蓝粉的历时劣化最严重 ,其y坐标增大 1 0 % ,x坐标增大 5 %。我们认为改进荧光粉浆料成份和配比 ,从而降低荧光粉的烧结温度以及采用比表面积大的荧光粉颗粒 ,有助于改善工序劣化 ;改进MgO的性能 ,提高其溅射能力以及采用新的驱动方法以避免荧光粉遭受离子轰击 。

关 键 词：PDP 工序劣化  历时劣化  等离子体显示器 彩色显示器 平板显示器 彩色荧光粉  劣化研究  

分 类 号：TN104.3] TN873.94