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期刊文章详细信息

X射线衍射在纳米材料物理性能测试中的应用    

Application of XRD analysis to testing physical properties of nano-materials

  

文献类型:期刊文章

作  者:张泽南[1]

机构地区:[1]浙江工业大学理学院,浙江杭州310032

出  处:《浙江工业大学学报》

年  份:2002

卷  号:30

期  号:1

起止页码:31-35

语  种:中文

收录情况:AJ、CAS、INSPEC、JST、RCCSE、ZGKJHX、普通刊

摘  要:借助X射线衍射 (XRD)试验 ,测定纳米SiO2 和纳米CaCO3的微观结构 ,采用半定量法(QXRD)测定了纳米SiO2 与普通Ca(OH) 2 和水泥硬化浆体界面中Ca(OH) 2 的反应程度 ,以及在水泥硬化浆体界面中Ca(OH) 2 晶体的取向程度 ,试验结果表明纳米SiO2 能大幅度地降低这种取向程度。同时采用基本参数法和谢乐公式法计算了在水泥硬化浆体界面中Ca(OH) 2 的晶粒尺寸 ,得到纳米SiO2 有细化Ca(OH) 2 晶粒作用的结论。

关 键 词:X射线衍射 纳米SIO2 反应过程  取向程度  晶粒尺寸 纳米材料 二氧化硅 物理性能测试  

分 类 号:TB383[材料类]

参考文献:

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引证文献:

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同被引文献:

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