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期刊文章详细信息

驱动与吸收电路对IGBT失效的影响    

Influence of Drive Circuit and Absorption Circuit on Failure of IGBT

  

文献类型:期刊文章

作  者:李宝成[1]

机构地区:[1]太原市公共交通总公司汽车一公司,太原工程师030012

出  处:《山西科技》

年  份:2002

卷  号:17

期  号:2

起止页码:57-58

语  种:中文

收录情况:普通刊

摘  要:文章分析了驱动和吸收电路对功率器件IGBT开关过程的影响及其失效原因 ,提出了应采取的措施。

关 键 词:功率半导体器件 IGBT开关 驱动电路 吸收电路

分 类 号:TM564]

参考文献:

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二级参考文献:

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耦合文献:

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引证文献:

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二级引证文献:

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同被引文献:

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