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期刊文章详细信息

室温下单晶硅压痕微裂纹的形成与扩展    

Indention microcrack formation and propagation in single crystalline silicon at room temperature

  

文献类型:期刊文章

作  者:张琼[1] 周海芳[2] 李斗星[3]

机构地区:[1]福州大学材料学院,福建福州350002 [2]福州大学电子系,福建福州350002 [3]中国科学院金属研究所固体原子象开放实验室,辽宁沈阳110015

出  处:《电子显微学报》

年  份:2002

卷  号:21

期  号:1

起止页码:56-58

语  种:中文

收录情况:BDHX、BDHX2000、CAS、CSCD、CSCD2011_2012、INSPEC、JST、RCCSE、ZGKJHX、核心刊

摘  要:用透射电镜定位观察研究了在室温下高纯单晶硅显微压痕表面radial脆性微裂纹的纳观形变 ,阐述了塑性变形对微裂纹形核、扩展及开裂的影响。发现 :室温下单晶硅的压痕前沿经历了极复杂的非线性演化 :前沿区的位错发射与运动 (Kcleave>Kemit时 )、解理微纹形核与扩展 (σ塞 >σth 时 )。

关 键 词:定位观察  位错 塑性诱导解理  室温 单晶硅 压痕 微裂纹

分 类 号:O77]

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同被引文献:

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