期刊文章详细信息
单片机在光栅位移检测中的应用
Application of Single Chip Microcomputer in Grating Shift Test
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]深圳职业技术学院电子通信工程系,广东深圳518055
年 份：2001
卷 号：9
期 号：5
起止页码：10-11
语 种：中文
收录情况：CSCD、CSCD_E2011_2012、普通刊
摘 要：介绍了一种以单片机为核心的位移自动检测系统 ,论述了位移信号检测、处理电路的原理。
关 键 词：光栅 位移检测 信号处理 单片机
分 类 号：TN253] TP368.1]
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