文献类型：期刊文章

作　　者：赵宇[1] 王宇宏[2] 黄敏[1]

机构地区：[1]北京航空航天大学可靠性工程研究所,北京100083 [2]中国科技大学研究生院,北京100039

出　　处：《系统工程与电子技术》

年　　份：2002

卷　　号：24

期　　号：1

起止页码：99-102

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2000、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI、INSPEC、JST、SCOPUS、ZGKJHX、ZMATH、核心刊

摘　　要：利用复杂电子设备研制阶段故障数据 ,综合评估其可靠性水平 ,可以为复杂电子设备的定型及可靠性鉴定提供依据。为了对复杂电子设备研制阶段各试验数据进行可靠性综合评估 ,在可靠性增长的杜安模型基础上 ,引入不同试验条件下的环境折合系数 ,建立了复杂电子设备的可靠性综合评估模型 ,并提出了相应的综合评估方法 ,最后给出了所述方法与模型的一个工程应用实例。

关 键 词：电子设备 数据分析 可靠性评估 杜安模型  

分 类 号：TN02]