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期刊文章详细信息

R&D知识溢出效应模型分析  ( EI收录)  

The Analysis on Spillover Effect Model of R&D Knowledge

  

文献类型:期刊文章

作  者:侯汉平[1] 王浣尘[1]

机构地区:[1]上海交通大学系统工程研究所,上海200052

出  处:《系统工程理论与实践》

年  份:2001

卷  号:21

期  号:9

起止页码:29-32

语  种:中文

收录情况:BDHX、BDHX2000、CSCD、CSCD2011_2012、EI、IC、JST、NSSD、RCCSE、RWSKHX、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘  要:分析了 R& D知识溢出效应 ,讨论了知识创新与模仿的旋进机制 ,指出要利用知识溢出效应 ,推动技术进步 ;要对知识的研究与开发给予政策优惠等 .最后 ,提出通过市场和政府两只手的作用实现经济帕累托最优 .

关 键 词:知识溢出 知识创新 效应模型  R&D

分 类 号:G311] F204]

参考文献:

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引证文献:

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同被引文献:

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