文献类型：期刊文章

作　　者：张映敏[1] 罗正祥[1] 羊恺[1] 张其劭[1]

机构地区：[1]电子科技大学微波测试中心,成都610054

出　　处：《电子科技大学学报》

基　　金：国家超导中心研究基金资助项目

年　　份：2001

卷　　号：30

期　　号：6

起止页码：633-637

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2000、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI、IC、INSPEC、JST、MR、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、ZMATH、核心刊

摘　　要：介绍一种工作在12 GHz附近的高温超导薄膜微波表面电阻sR测试系统,该系统采用低损耗高介电常数的蓝宝石构成工作在TE011+δ谐振模式的介质谐振器,在77 K时,利用它对高温超导薄膜的微波表面电阻sR进行测试,提高了整个测试系统的品质因素,可成功地用于单片φ50.8 mm较大超导薄膜的无损伤测试,整个测试系统体积小、操作方便,且所需实验条件简单,测试灵敏度高,具有简便、快捷、适合于工业化生产检测的特点。

关 键 词：高温超导薄膜 微波表面电阻 电阻测试

分 类 号：TM934.1]