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期刊文章详细信息

多功能椭偏测厚仪    

The multifunctional ellipsometer

  

文献类型:期刊文章

作  者:黄佐华[1] 何振江[1] 杨冠玲[1] 傅强[1] 宁惠军[2]

机构地区:[1]华南师范大学物理系,广州510631 [2]广东省公安厅科技处,广州510050

出  处:《光学技术》

年  份:2001

卷  号:27

期  号:5

起止页码:432-434

语  种:中文

收录情况:CAS、CSCD、CSCD2011_2012、IC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、普通刊

摘  要:研究成功一台变入射角反射式消光法多功能智能椭偏测厚仪。实验表明 :仪器的测厚准确度为± 0 1nm ;椭偏参数Ψ和Δ的测量重复性精度分别为± 0 1°和± 0 3° 。

关 键 词:椭偏仪 消光法  膜厚

分 类 号:O484.5] H744[物理学类]

参考文献:

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引证文献:

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同被引文献:

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