期刊文章详细信息
使用子孔径拼接法检测大口径光学元件 ( EI收录)
Testing the large aperture optical components by the stitching interferometer
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]四川大学光电系 [2]成都精密光学工程研究中心,四川成都610041 [3]成都精密光学工程研究中心
年 份：2001
卷 号：27
期 号：6
起止页码：516-517
语 种：中文
收录情况：CAS、CSCD、CSCD2011_2012、EI(收录号：2002216952962)、IC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、普通刊
摘 要：为了解决大口径光学元件检测过程中成本高、空间分辨率低这两个主要难点 ,提出了使用小口径、高精度干涉仪分次检测大口径元件 ,然后通过优化算法将检测结果进行拼接处理 ,最终得到原大口径元件波前信息的方法 ,并作了初步的拼接模拟实验 ,确认了这一方案的可行性。
关 键 词：大口径光学元件 子孔径拼接 最小二乘法 检测
分 类 号：TH706[仪器类]
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