文献类型：期刊文章

作　　者：牟其善[1] 张杰[1] 官文栎[1] 彭祖建[1] 李可[1] 胡秀琴[1] 刘希玲[1] 路庆明[2] 马长勤[2] 王绪宁[2] 田玉莲[3]

机构地区：[1]山东教育学院数理系,济南250013 [2]山东大学化学院,济南250100 [3]中国科学院高能物理研究所,北京100039

出　　处：《物理实验》

基　　金：山东省自然科学基金资助项目(Y98A15 0 18);山东大学晶体材料国家实验室资助项目

年　　份：2001

卷　　号：21

期　　号：7

起止页码：18-21

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2000、核心刊

摘　　要：利用同步辐射 X射线形貌术研究晶体缺陷 ,是近年来发展起来的一种优良的实验方法 .本文在研究LNP等晶体缺陷的同时 ,对这种实验方法进行了系统的探讨 ,讨论了散射光的消除、焦距的选择、样品的透明度与厚度、曝光的时间、底片的冲洗等问题 。

关 键 词：同步辐射  X射线形貌术  晶体缺陷 LiNbP4O12  晶体 实验方法  衍射

分 类 号：O766]