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槲皮素化学修饰碳糊电极吸附溶出伏安法测定痕量铅 ( EI收录 SCI收录)
Determination of Trace Lead by Adsorptive Stripping Voltammetry at Quercetin Modified Carbon Paste Electrode
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]湘潭大学化学系,湘潭411105
年 份:2001
卷 号:29
期 号:8
起止页码:916-918
语 种:中文
收录情况:AJ、BDHX、BDHX2000、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EBSCO、EI、IC、JST、RCCSE、RSC、SCI(收录号:WOS:000170735600013)、SCI-EXPANDED(收录号:WOS:000170735600013)、SCIE、SCOPUS、UPD、WOS、ZGKJHX、核心刊
摘 要:建立了用槲皮素修饰碳糊电极测定痕量铅的新方法 ,在 0 .1 0mol L甲酸盐缓冲液 (pH 4.3 )中 ,于 -0 .1 0V(vs.SCE)搅拌富集 ,再在 -0 .70V静止还原 40s后 ,阳极化扫描 ,于 -0 .42V左右获得一灵敏的铅阳极溶出峰。在最佳条件下 ,富集不同时间 ,其二次导数峰电流与Pb2 + 在 1 .0× 1 0 - 8~ 8.0× 1 0 - 7mol L和 2 .0× 1 0 - 9~ 6.0× 1 0 - 8mol L两个范围内呈线性关系 ,检出限为 8.0× 1 0 - 1 0 mol L(S N =3 )。同时初步探讨了电极反应机理。
关 键 词:槲皮素 化学修饰碳糊电极 吸附溶出伏安法 铅 痕量分析 测定 水
分 类 号:O657.1]
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